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招標項目編號：0862-254HNZJC0005
項目名稱：半導體缺陷檢測設備
項目名稱（英文）：Semiconductor defect detection equipment
招標機構(gòu)：中技建設咨詢
招標方式：公開招標
招標結(jié)果：重新招標
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編輯：mofcom
