項(xiàng)目名稱：缺陷檢測設(shè)備-1（重新招標(biāo)）

招標(biāo)項(xiàng)目編號：0722-254FE6136CQZ

項(xiàng)目所屬地區(qū)：重慶

招標(biāo)范圍：暗場缺陷檢測設(shè)備2臺、亮場缺陷檢測設(shè)備1臺 

招標(biāo)機(jī)構(gòu)：中國遠(yuǎn)東國際招標(biāo)有限公司

招標(biāo)人：重慶芯聯(lián)微電子有限公司

開標(biāo)時(shí)間：2025-10-9     14：00

公示開始時(shí)間：2025-10-16           10：00

評標(biāo)公示截止時(shí)間：2025-10-19           17：00            

中標(biāo)結(jié)果公告時(shí)間：2025-10 -20

中標(biāo)人：深圳市新凱來工業(yè)機(jī)器有限公司